近日，真理光学隆重推出了包含全球首创的衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术在内的LT2200系列全新一代激光粒度分析仪。此项技术的商品化应用将给激光粒度仪行业带来深刻影响和变化。

此前，张福根博士和他的学生发现了“爱里斑”尺寸的反常变化，即球形颗粒散射的爱里斑尺寸有时会随粒径的增大而增大的现象。此后，张福根博士在多个学术或商业会议中将此项重大发现公布并与业界学者进行讨论。最近一次是在今年4月初英国伦敦举行的ISO/TC24/SC4国际年会上，张博士做了学术报告并与国际粒度仪代表就此问题进行探讨。

粉体圈也曾就“爱里斑”反常变化方面的问题，对张福根博士进行采访。但没想到的是这么快，真理光学就将问题的解决方案拿出来，并将此应用到了激光粒度仪产品中。据悉，LT2200系列粒度仪是真理光学继LT3600系列激光粒度仪，Spraylink超高速智能喷雾粒度仪和Nanolink纳米粒度仪之后，基于用户对高性价比仪器的需求而倾力打造的全新一代超高速智能激光粒度分析系统。

LT2200系列激光粒度仪加持了真理光学的偏振滤波专利技术，摒弃传统的针孔和机械调整，实现高稳定激光偏振设置和空间滤波；真理光学首创的衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术的使用，使用户无需选择分析模式，即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果；LT2200系列粒度仪还采用了真理光学独创的高速全息信号处理技术，测量速度高达创纪录的每秒20000次，确保不漏检任何粒径和形状的颗粒； LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药，电池材料，地质，水文，化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。

粉体圈 郜白